Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts – Système d’Analyse par Faisceaux d’Ions Rapides (SAFIR)

Liste des membres

Stages et Emplois

Vue d'ensemble de SAFIR. © INSP - Cécile Duflot
Accélérateur Van de Graaff. © INSP - Cécile Duflot
Accélérateur Van de Graaff graphé. © INSP - Cécile Duflot
Accélérateur Van de Graaff ouvert, 2006. © INSP
Plasma d’hélium au sein de la source d’ions. © INSP - Emrick Briand
Ligne de faisceaux. © INSP - Cécile Duflot
Chambres d'analyse. © INSP - Cécile Duflot
Vue à travers un hublot de l’intérieur d’une chambre d’analyse dans laquelle sont placés des échantillons destinés à être analysés grâce à un détecteur de particules, 2010. © INSP - Jean-Jacques Ganem
Salle de commande de SAFIR - Baies de contrôle de l’accélérateur à gauche. Baies d’acquisition de données à droite. © INSP - Jean-Jacques Ganem

SAFIR utilise des faisceaux de noyaux lumineux rapides comme sondes de la composition et de la structure de la région superficielle des solides.

Méthodes analytiques
Publications récentes
SAFIR en quelques dates
Utiliser SAFIR
Stages

Contacts

Emrick Briand : emrick.briand(at)insp.jussieu.fr

Ian Vickridge : ian.vickridge(at)insp.jussieu.fr

safir@insp.jussieu.fr