Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts – Système d’Analyse par Faisceaux d’Ions Rapides (SAFIR)

  • Vue d'ensemble de SAFIR. © INSP - Cécile Duflot

SAFIR utilise des faisceaux de noyaux lumineux rapides comme sondes de la composition et de la structure de la région superficielle des solides.

 

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Contacts

Emrick Briand : emrick.briand(at)insp.jussieu.fr

Ian Vickridge : ian.vickridge(at)insp.jussieu.fr

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