Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts – Système d’Analyse par Faisceaux d’Ions Rapides (SAFIR)

  • Vue d'ensemble de SAFIR.
    Vue d'ensemble de SAFIR. © INSP - Cécile Duflot

SAFIR (Système d’Analyse par Faisceaux d’Ions Rapides) est la plateforme d’analyse par faisceaux d’ions de l’équipe Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts, ouverte aux chercheurs de Sorbonne Université, aux partenaires industriels et aux collaborations internationales via la fédération nationale de recherche EMIR&A et les projets européens.

Basée sur un accélérateur Van de Graaff, elle permet l’analyse qualitative et quantitative de couches minces à ultra-minces — nanosciences, science des matériaux, microélectronique, corrosion, électrochimie, géologie, planétologie.

➡️ Toutes les informations pratiques sont regroupées sur le site dédié de la plateforme : plateforme-safir.fr — méthodes d’analyse (RBS, NRA, ERDA, MEIS…), équipements, tarifs, accès, formation et habilitation obligatoire, publications.

 

Contacts

Emrick Briand : emrick.briand(at)insp.jussieu.fr

Bingbing Xia : bingbing.xia(at)insp.jussieu.fr

safir(at)insp.jussieu.fr