Vers une quantification plus fiable en spectroscopie de photoémission
La spectroscopie de photoémission sous excitation X (XPS) est une technique incontournable en science des matériaux et nanoscience. Au-delà de sa capacité à identifier les éléments présents et leurs environnements chimiques, elle permet d’obtenir des stœchiométries au travers des aires des niveaux de cœur. Cependant, cette quantification nécessite une correction de fonction d’appareil souvent délicate à déterminer. Dans le cadre de la Fédération de Recherche sur les Spectroscopies de Photoémission (FR-SPE), des chercheurs de l’INSP ont participé à une action nationale impliquant 10 laboratoires sur la calibration des instruments. Ils ont proposé et testé une méthode novatrice de détermination de la fonction de transmission des spectromètres basée sur l’analyse du fond inélastique sur des métaux. Cette approche a été validée avec succès par rapport à des facteurs de sensibilité relatifs théoriques pour les instruments XPS classiques à source Al-Ka mais aussi ceux plus récents à haute-énergie (Cr-Ka). Ce travail ouvre la voie à une quantification plus fiable en XPS.
Référence
« Intensity-energy response function of Al/Cr-Kα x-ray photoemission instruments: an inter-laboratory study »
Alamarguy, D. Aureau, T. Conard, F. Georgi, S. Guilet, S. Hajjar-Garreau, O. Heintz, G. Monier, C. Méthivier, H. Montigaud, S. Soule, O. Renault, R. Lazzari
J. Electron Spectrosc. 276 (2024) 147486
