Plateforme de spectroscopie

Cette plateforme de spectroscopie est destinée à la mesure de la luminescence de matériaux, de l’épaisseur et de l’indice optique de couches minces, à la réalisation de la photométrie de composants optiques.

3 instruments

Spectro-fluorimètre permettant de faire des spectres d’excitation et d’émission pour un échantillon luminescent à température ambiante ou cryogénique, sous azote ou hélium. Cet appareil fonctionne dans la gamme visible proche UV (185-900 nm).
Spectrophotomètre permettant de caractériser spectralement des matériaux. On peut ainsi mesurer les propriétés optiques passives (transmission, absorption, réflexion…) de lames et composants optiques. Cette appareil fonctionne dans la gamme  UV-visible-proche IR (175-3300 nm).
Ellipsomètre permettant de déterminer les constantes optiques anisotropes et l’épaisseur optique de systèmes multicouches et nano-composites.Cet appareil fonctionne dans la gamme (200 – 2500 nm).

Contacts

  • Willy Daney de Marcillac – Spectroscopie et ellipsométrie – willy.marcillac@insp.jussieu.fr
  • Agnès Maître – Spectroscopie – agnes.maitre(at)insp.jussieu.fr
  • Bruno Gallas – Ellipsométrie – bruno.gallas(at)insp.jussieu.fr